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MagnoMeter XRS顆粒表面特性分析儀，采用專利核磁共振技術，能夠快速、準確地測量不同濃度，尤其是高濃度的膠體、乳液和懸浮液中顆粒的比表面積。

MagnoMeter XRS可給出懸浮體系中固體顆粒或液體粒子與懸浮劑之間的表面化學、親和性、潤濕性、濕潤狀態下顆粒或粒子的比表面積(非干粉顆粒)。

MegnoMeter XRS可直接測定濃稠態樣品，無需稀釋或真空干燥處理，采用了分析濕潤狀態下顆粒(懸浮態)比表面積的全新技術，即所謂“濕法”。與傳統干粉狀態下測定顆粒表面特性的儀器（采用BET “干法”）相比，

MagnoMeter XRS所提供的數據能更加真實地反映分散顆粒界面的實際狀況，尤其是顆粒在工藝流程中(濕潤狀態下)的行為特性。具有簡便、高效、快捷等特點，可廣泛應用于對分散顆粒表(界)面特性的研究、改性、篩選、質量控制、工藝改進、新產品開發等領域。與傳統方法相比，可大大縮短科研、質量監控所需時間，提高工作效率。

MagnoMeter XRS顆粒表面特性分析儀利用測得的核磁共振馳豫時間數據，判斷乳液或懸浮體系中“顆粒”與“溶劑”之間的表面化學性、親和性和浸潤性，從而計算出液體或漿料體系中的顆粒比表面積。通過快速測量，

判斷出顆粒的分散程度，據此調整工藝、控制顆粒分散性，提高產品性能，符合當下的市場需求，尤其適用于石墨烯和碳納米管、化妝品和油墨等眾多行業領域。